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- SPECTRA-QT 成像传感器量子效率测试光源
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SPECTRA-QT 成像传感器量子效率测试光源
对于图像传感器行业而言,精确地了解光电量子效率的转换是极其重要的,一个良好特性的传感器可以和调整输入滤波后的光谱,增强修正终端产品的使用性能。
Spectra-QT成像传感器量子效率测试光源提供可调的、已知均匀度的、覆盖光谱灵敏度范围的硅光学传感器单色光源,用于测试图像传感器的光谱响应率和量子效率,线性度,像素和模块。
测量参数:
- 量子效率
- 光谱响应率
- 线性度
特点:
- 超高的光照强度和超大的动态范围,能够满足各种传感器的量子效率测试需求
- 输出稳定、光谱辐射度均匀的面光源,确保传感器测试结果的一致性。
- 光谱辐照度和辐亮度能够实时溯源至美国国家标准与技术研究院(NIST)
- 提供软件开发包,能够满足客户各种自定义测试流程开发需要
主要规格参数
光谱辐照度 光谱辐亮度 波长范围: 375 - 1100 nm 375 - 1100 nm 光谱带宽: 5 nm to10 nm 5 nm to10 nm 波长准确度: 0.6 nm 0.6 nm 开口孔径尺寸: 29 mm, 23.9 mm, 26.2 m, 22 mm N/A 400 nmZ大光谱辐照度: 12 mW/cm2 32 mW/cm2-sr 600 nmZ大光谱辐照度: 21 mW/cm2 54 mW/cm2-sr 800 nmZ大光谱辐照度: 5 mW/cm2 11 mW/cm2-sr 550 nm稳定性: (UV-VIS 光源) < 1.5% over 5 sec period < 1.5% over 5 sec period 750 nm稳定性: (VIS-NIR 光源) < 0.05% over 5 sec period < 0.05% over 5 sec period