VCSEL LIVT 光学测试系统

近年来，VCSEL产业得到了迅猛的发展，VCSEL作为新一代光存储和光通信应用的核心器件，应用在光并行处理、光识别、光互联系统、光存储等领域。随着智能化信息世界的不断发展，VCSEL将广泛应用在消费电子3D成像、物联网、数据中心/云计算、自动驾驶等领域。其中，VCSEL在消费电子领域发挥越来越重要的作用，VCSEL可用来进行智能手机人脸识别、无人机避障、VR/AR、扫地机器人、家用摄像头等。

VCSEL器件较大的发光角和快速脉冲模式使得传统的激光功率计不能得到理想的测试结果， 此外，电光转换效率和波长-温度漂移成为了评价VCSEL 器件的关键指标。我们公司推出的VCSEL LIVT 测试系统，解决了上述的测试难题，是行业内研发测试，质量检查，生产测试的理想选择方案。

VCSEL LIVT 测试系统使用 Spectralon 、 Permaflect 或 Spectraflect 积分球对器件发光进行收集。该材料对紫外-可见-红外范围内的光都具有*高的光谱反射率， 可分别满足研发端和产线段对高低温度测试和产线端设备免维护性的要求。此外，通过选择不同尺寸的积分球，可以满足从毫瓦到千瓦量级的激光功率测试。

用户可根据需要选择不同尺寸和功率的温度控制器，并将待测器件置于温度控制器上以保证待测器件工作在理想的温度。系统搭配的高速探测器可精准并快速的采集 VCSEL 发出的脉冲光，并依据用户设置的测试方法完成完整的 LIVT 测试。

产品特点：

· 精准，快速，便捷的自动化 LIVT 测试

· 经溯源*** NIST 稳定准确的 940nm 标准光源校正

· 高稳定性高分辨率光谱分析仪（光谱分辨率***高达 0.1-0.16nm）

·  Spectralon 材料，耐温 400 度

· 精准快速的温度控制

· 精确快速的数据采集（** 200KHz）

· 用户自定义驱动方式（如：脉宽，周期等）

· 强大的软件功能，可记录 LIVT 曲线和 T-W

（温度-波长漂移）曲线

VCSEL LIVT 光学测试系统 规格参数：

软件功能